Minggu, 3 Juli 2022

» Pertemuan lalu
» Lokasi
» Akomodasi
» Program
» Registrasi
» Peserta
» Forum online
   

- “Preparasi dan karakterisasi Nanopartikel dengan Menggunakan TEM, AFM dan STM” -
http://situs.opi.lipi.go.id/wnt3/   -   http://www.nano.or.id

» Poster
» Kenangan dalam gambar

Latar Belakang

Saat ini tren teknologi yang berkembang di dunia telah mengarah pada penggunaaan teknologi yang dapat memenuhi kebutuhan dan menyelesaikan permasalahan manusia secara revolusioner. Salah satu yang kini telah menjadi booming dan diprediksi akan menguasai arah teknologi dunia di masa yang akan datang adalah nanoteknologi. Dengan nanoteknologi, material dapat didesain sedemikian rupa dalam orde nano, sehingga dapat memperoleh sifat dan material yang kita inginkan tanpa melakukan pemborosan atom-atom yang tidak diperlukan. Aplikasi nanoteknologi akan membuat revolusi baru dalam dunia industri dan diyakini pemenang persaingan global di masa yang akan datang adalah negara-negara yang dapat menguasai nanoteknologi.

Ruang lingkup nanoteknologi meliputi usaha dan konsep untuk menghasilkan material/bahan berskala nanometer, karakterisasi material, serta mendisain ulang material/bahan tersebut ke dalam bentuk, ukuran dan fungsi yang diinginkan.

Karakterisasi material merupakan salah satu isu penting dalam nanoteknologi. Dengan mengkarakterisasi maka dapat diketahui struktur, morfologi serta keunggulan lainnya dari material nano tersebut. Penggunaan mikroskop elektron dan AFM dalam karakterisasi material nano menjadi suatu kebutuhan dasar bagi para pelaku nanoteknologi. Penggunaan SEM pada karakterisasi material nano selain sebagai analisa pendahuluan juga bertujuan untuk mengetahui morfologi dari material tersebut. Teknik yang lebih maju lagi untuk analisa permukaan selain SEM adalah STM. Dengan menggunakan prinsip tunneling yang berasal dari fisika kuantum, teknik ini dapat melihat permukaan pada level atom. Sedangkan AFM yang merupakan lanjutan dari STM mempunyai resolusi yang sangat tinggi, 1000 kali lebih baik dari Scanning Probe Microscopy (SPM) biasa. AFM merupakan salah satu peralatan penting dalam karakterisasi material nano. Karakerisasi dengan menggunakan TEM bertujuan untuk melihat struktur bagian dalam dari material nano tersebut. Dengan TEM akan diketahui struktur atom penyusun, bentuk kristal dan yang lainnya.

Dengan dilatarbelakangi hal tersebut maka diperlukan adanya pengetahuan dan teknik yang lebih mengenai karakterissi material nano. Kegiatan yang memadukan teori dengan praktek menjadi solusi untuk memenuhi tuntutan dalam meningkatkan kompetensi para penggiat nanoteknologi di Indonesia. Sehingga tidak hanya pemahaman yang di dapat, tetapi juga keahlian dalam mengkarakterisasi material nano.

Tanggal Pertemuan

Rabu – kamis, 17 - 18 Desember 2008

Tempat Kegiatan

Gedung 20 BATAN, Kawasan PUSPIPTEK Serpong

Keuntungan bagi peserta

  • Memahami teori karakterisasi nanopartikel dengan menggunakan TEM, AFM dan STM.
  • Memahami teknik preparasi sampel untuk analisa TEM.
  • Memahami teknik menganalisa data yang diperoleh dari TEM, AFM dan STM.
  • Mendapat sertifikat.
Pembicara

  1. Dr. Azhar Riza Antariksawan (Deputi Bidang Penelitian Dasar dan Terapan-BATAN)
  2. Dr. Ir. Harini Sosiati, M. Eng (Peneliti di Kyushu University)
  3. Dr. Ratno Nuryadi (Peneliti Pusat Teknologi Material-BPPT)
  4. Dr. Azwar Manaf (Dosen/Peneliti Departemen Fisika FMIPA UI)

Biaya

Rp. 500.000,00 (sudah termasuk lunch + coffee break, seminar kit dan sertifikat). Peserta terbatas untuk 30 orang.

Transfer Biaya Training:

a.n. Juhaeri, Bank Mandiri, Cabang Serpong, No. Rek: 128 000 5471 690.

Kontak

Sa'adi
Telp. (021) 7093 3137, (021) 9475 0177
URL : http://www.nano.or.id
E-mail: workshopnanoteknologi@nano.or.id

Penyelenggara

  • Badan Tenaga Nuklir Nasional (BATAN)
  • Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia (LIPI)
  • Masyarakat Nanoteknologi Indonesia (MNI)

LIPI     O   P  I   -   Organisasi   Profesi   Ilmiah   Indonesia »»»»»»»»»»